早期的光谱仪器的光信号记录主要是通过照相感光板和感光胶片来进行的。感光板的制作是通过在平整的玻璃上涂一层感光乳胶。随着光谱检测学的不断发展，人们对于光谱检测的要求越来越高，越来越广，检测数据的后期分析变得尤为重要，因此上述的记录方法都无法满足需求。上世纪七十年代初，随着CMOS 等技术的成熟，出现了多种典型的固体成像传感器件，在现代光谱仪器中所使用的光电阵列探测器可分为电荷耦合器件(CCD)、光电二极管阵列（PDA）、CMOS 图象传感器等几种。测反射率光纤光谱仪
光电二极管阵列是由多个二极管单元（像素）组成的线性阵列。它的主要优点在于具有近于理想的光电传感器特性，，象元形状和尺寸设计灵活，在近红外区灵敏度高，响应速度快；缺点是象元数较少、在紫外波段没有响应。但是它的抗辐射能力要比 CCD 高10 倍以上，能比较好的满足强辐射环境以及军事中的应用。测反射率光纤光谱仪
电耦合器件（Charge Coupled Devices）简称CCD，是20 世纪70 年始发展起来的新型半导体器件。从 CCD 概念提出到商品化的电荷耦合摄像机出现仅仅经历了四年。其所以发展迅速，主要原因是它的应用范围相当广泛。它在数字信息存储、模拟信号处理以及作为成像传感器等方面都有十分广泛的应用。对于同等级的 CCD 而言，探测器的动态范围、灵敏度以及线性度等都基本上相同，但象元的个数则是由象元的大小和探测元的总长度所决定，所以在实际选择 CCD 时只需要考虑象元的大小和探测元的总长度就可以。测反射率光纤光谱仪
对于光谱探测而言，CCD 单位象元的大小是一个很重要的参数。单位象元的宽度方向为光谱色散方向，这个方向表征了光学系统色散的能力，如果探测器象元的宽度过于大，就可能会使探测器产生欠采样，就是说虽然光学系统有较高的分辨率但是没有办法通过探测器进行表现。象元宽度越小就越能够保证好的光谱分辨率，但是过于小的象元宽度就会导致 CCD 灵敏度的下降，所以在选择探测器象元宽度时应该在保证 CCD 灵敏度的同时，尽可能选用小宽度象元的CCD。测反射率光纤光谱仪
光谱仪是一种用于对入射光成分进行测定的测量仪器，不仅要对入射光进行的色散成像，而且还应该知道所测试信号对应的波长数值，因此所有的光谱检测仪器必须进行波长定标。测反射率光纤光谱仪
便携式光谱仪是光学仪器的主要构成部分。由于其检测精度高、速度快等优点，已成为光谱测量学中使用的重要测量仪器被广泛应用于农业、生物、化学、地质、食品安全、色度计算、环境检测、卫生、ＬＥＤ检测、半导体工业、石油化工等领域。测反射率光纤光谱仪
以上信息由专业从事测反射率光纤光谱仪的景颐光电于2025/2/11 16:20:27发布
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