仪表板总成测试机械试验(耐冲击试验、结构刚强度测试、操作性能试验、模态分析)
耐久试验(手套箱耐久试验、出风口耐久试验、仪表板总成耐久试验、关键寿命试验)
声学试验(噪声试验)
环境试验(尺寸稳定性试验、红外光老化试验、温湿度循环试验)
门系统测试基本电学试验(线阻测量、过电压试验、热保护试验、电流测量试验)1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试,目的是测试自动生成的代码写入控制器后,功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要,但不做重视也会引起一些不良后果(如调度问题、CPU Load,堆栈溢出等)
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试,测试控制器完整系统功能,一般会搭建控制器所在系统的测试台架,使用电气元件模拟传感器(如温度)和执行器(如风扇负载)的电气特性,验证完整的系统功能。
以上信息由专业从事轴系检测公司的慧声智创于2025/4/5 13:55:45发布
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